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微环境腐蚀监测
 

 





 

ISA微环境腐蚀表征片

ISA微环境腐蚀表征片可为电子电器设备服役微环境监测提供便捷、快速、精准的方法,参考ISA 71.04和ISO 11844标准对腐蚀速率和腐蚀等级评价,有效指导电子电器产品耐蚀性、可靠性设计,或通过改善产品服役环境减少因腐蚀带来的经济损失和安全风险。
ISA微环境腐蚀表征片测试周期短,通常为30天,腐蚀严重区域测试周期可缩短至7天,该产品具有测试精度高,可达纳米级,体积小巧轻便,便于携带或投放,可对腐蚀产物定量分析,可初步判断腐蚀机理等优点。

技术参数:

严重等级 G1 G2 G3 GX
腐蚀程序 温和 中等 苛刻 严重
铜片反应速度(埃/月) <300 <1000 <2000 ≥2000
银片反应速度(埃/月) <200 <1000 <2000 ≥2000

含义                                                                                                                                                                                                                                 

环境得到充分控制,腐蚀不是决定设备可靠性的因素 环境中的腐蚀影响已经可测,腐蚀可能会是决定设备可靠性的因素 电子电器发生腐蚀的可能性很大,需进一步评估环境的恶劣程度,或使用专门设计的成套设备 电子电器极易受腐蚀损坏,只有专业设计的成套设备才能在此环境运行

 


 



 

微环境腐蚀监测仪

在各个领域广泛使用的电子设备对大气腐蚀非常敏感,为保证电子设备的可靠性,需要对电子设备服役微环境的温湿度、腐蚀速率和腐蚀等级进行实时监测。DCM580微环境腐蚀监测仪是根据ISA71.04标准设计的一款专用于监测户内电子电器产品腐蚀微环境的监测仪。
该设备采用金属薄膜差分电阻技术,具有极高的金属减薄分辨率和极低的温度漂移。通过与标准测试片法长期的验证比较,该设备测量结果精度高、稳定好,适用于电子电器产品服役微环境的连续监测。

该设备可对测量结果进行长时间的连续记录,支持选配多种数据读取和实时传输方式,如U盘下载、Modbus RTU(RS-485)和无线传输等。该设备探头采用可插拔式设计,更换方便、配置简单,可定制为电池或在线的供电方式。

技术参数:

项目 参数 
材质
腐蚀减薄分辨率 0.1nm 0.1nm
可腐蚀总量 2μm 2μm
测量时间间隔 1小时-1天(可配置)
内部数据记录量 2年左右(取决于测量时间间隔)
其他数据记录 系统时间、温度、温度、气压等

 


 


PCB表面状态监测传感器

PCB在大气环境服役过程中,沉积盐会改变服役过程中表面状态特性,促进PCB表面薄液膜的形成和腐蚀,进而对其正常功能造成影响。因此,需要对电子电器PCB表面状态进行监测,预防电子电器发生突发性失效问题。

表面状态监测器利用电化学阻抗法,实时监测表面沉积盐的量,同时测量电子电器在实际环境中的安全服役湿度以及表面润湿时间。监测器探头采用贵金属制备,性能稳定,使用寿命长,且可以根据不同的监测环境进行定制。

该设备可对测量结果进行长时间连续记录,支持多种数据读取和实时传输方式,如U盘下载、Modbus RTU(RS-485) 和无线传输等,可定制为电池或在线的供电方式。

技术参数:

项目 参数
沉积盐测量范围 0-1000mg/m2
安全服役湿度测量范围 30%-100%
表面润湿时间 0-10000h
温度 0-65℃
相对温度 0-100%RH
使用环境温湿度 0-65℃,<85%

 


 

 

大气腐蚀监测仪

材料大气腐蚀是最普遍存在的腐蚀类型,它是大气环境诸多因素在材料表面的综合作用的结果。DCM680大气腐蚀检测仪能实时连续检测标准金属的大气腐蚀速率,用于评估大气环境对金属材料的腐蚀程度,可为海洋工程、电力装备、通讯、石油等相关行业工程设计选材、防护选型等提供有效的决策数据支持。

该设备采用丝状电阻探针技术,恒流源双向激励,开尔文四端测试法,结合高精度AD采样,具有极高的分辨率和动态范围;同时该产品利用参比电阻测量方式,极大降低了温度效应引起的测量误差。

该设备可对测量结果进行长时间连续记录,支持多种数据读取和实时传输方式,如U盘下载、Modbus RTU(RS-485) 和无线传输等。支持多达四个不同材料探头的数据记录,探头可更换、配置灵活,具有较高的防护等级,适用于户外环境使用,可定制为电池或在线的供电方式。



技术参数:

项目 参数 
材质
腐蚀减薄分辨率 0.1μm 0.01μm 0.01μm 0.01μm
可腐蚀总量 1000μm 100μm 100μm 100μm
其它金属材料、腐蚀总量、分辨率等可定制
测量时间间隔 1小时-1天(可配置)
内部数据记录量 2年左右(取决于测量时间间隔)
其它数据记录 系统时间、温度、湿度、气压等